微區(qū)掃描電化學(xué)是一個(gè)建立在電化學(xué)掃描探針的設(shè)計(jì)基礎(chǔ)上的，進(jìn)行高測(cè)量分辨率及空間分辨率的非接觸式微區(qū)形貌及電化學(xué)微區(qū)測(cè)試系統(tǒng)。微區(qū)掃描電化學(xué)是提供給電化學(xué)及材料測(cè)試以*空間分辨率的一個(gè)測(cè)試平臺(tái)。每個(gè)VersaSCAN都具有高分辨率，長(zhǎng)工作距離的閉環(huán)定位系統(tǒng)并安裝于抗震光學(xué)平臺(tái)上。不同的輔助選件都安裝于定位系統(tǒng)上，輔助選件包括，如電位計(jì)，壓電振動(dòng)單元，或者激光傳感器，為不同掃描探針試驗(yàn)，定位系統(tǒng)提供不同的功能。VersaSTAT恒電位儀和Signal Recovery 7230鎖相放大器和定位系統(tǒng)整合在一起，由以太網(wǎng)來(lái)控制，保證小信號(hào)的測(cè)量。微區(qū)掃描電化學(xué)在掃描探針電化學(xué)領(lǐng)域中是一個(gè)全新的概念，以高分辨率，非接觸式，空間分析電化學(xué)測(cè)量的特點(diǎn)而設(shè)計(jì)。微區(qū)掃描電化學(xué)是一個(gè)模塊化的系統(tǒng)，可實(shí)現(xiàn)當(dāng)今所有微區(qū)掃描電化學(xué)技術(shù)以及激光非接觸式微區(qū)形貌測(cè)試：

　　- 掃描電化學(xué)顯微鏡（SECM）

　　- 掃描振動(dòng)電極測(cè)試（SVET）

　　- 掃描開(kāi)爾文（Kelvin）探針測(cè)試（SKP）

　　- 微區(qū)電化學(xué)阻抗測(cè)試（LEIS）

　　- 掃描電解液微滴測(cè)試（SDS）

　　- 非觸式微區(qū)形貌測(cè)試（OSP）

　　微區(qū)掃描電化學(xué)體現(xiàn)如下特點(diǎn)：

　　- 自動(dòng)循環(huán)實(shí)驗(yàn)，探針移動(dòng)及區(qū)域繪圖

　　- 圖形化實(shí)驗(yàn)程序工具（GESE）

　　- 支持多區(qū)域掃描

　　- 3D區(qū)域繪圖分析功能且專門的3D面積分析

　　- 所有實(shí)驗(yàn)多個(gè)數(shù)據(jù)視圖

　　- 2D線性圖形工具以分析和覆蓋數(shù)據(jù)

　　- 全屏顯示區(qū)域圖

　　- 鼠標(biāo)按鈕可定義編輯點(diǎn),全屏查看,移至點(diǎn)（X,Y）、斷面, 2 D傅里葉

　　- 用戶可選擇美國(guó)或歐洲當(dāng)前的常規(guī)支持

　　- 可選SVP,SKP,CHM和CTM線性和面積掃描的振動(dòng)頻率

　　微區(qū)掃描電化學(xué)利用納米級(jí)分辨率的快速，閉環(huán)x,y,z定位系統(tǒng)，并連同一個(gè)便捷的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)使用戶依據(jù)自己的實(shí)驗(yàn)選擇配置。微區(qū)掃描電化學(xué)此系統(tǒng)設(shè)計(jì)靈活且人體工程學(xué)設(shè)計(jì)方便確保池體，樣品和探針的進(jìn)入。微區(qū)掃描電化學(xué)是一款精密的掃描微電極系統(tǒng)，微區(qū)掃描電化學(xué)具有*空間分辨率，在溶液中可檢測(cè)電流或施加電流于微電極與樣品之間。用于檢測(cè)，分析，或改變樣品在溶液中的表面和界面化學(xué)性質(zhì)。微區(qū)掃描電化學(xué)是一個(gè)建立在電化學(xué)掃描探針的設(shè)計(jì)基礎(chǔ)上的，進(jìn)行高測(cè)量分辨率及空間分辨率的非接觸式微區(qū)形貌及電化學(xué)微區(qū)測(cè)試系統(tǒng)。 它是提供給電化學(xué)及材料測(cè)試以*空間分辨率的一個(gè)測(cè)試平臺(tái)。每個(gè)VersaSCAN都具有高分辨率，長(zhǎng)工作距離的閉環(huán)定位系統(tǒng)并安裝于抗震光學(xué)平臺(tái)上。微區(qū)掃描電化學(xué)不同的輔助選件都安裝于定位系統(tǒng)上，輔助選件包括，如電位計(jì)，壓電振動(dòng)單元，或者激光傳感器，微區(qū)掃描電化學(xué)為不同掃描探針試驗(yàn)，定位系統(tǒng)提供不同的功能。VersaSTAT恒電位儀和Signal Recovery 7230鎖相放大器和定位系統(tǒng)整合在一起，由以太網(wǎng)來(lái)控制，保證小信號(hào)的測(cè)量。